Особенности
Описание
Дефекты, вызванные процессом печати на задней стороне c-Si фотоэлементов, оказывают влияние на производительность и надежность продукции. Среди всех дефектов печати на обратной стороне, выступы, вызванные нарушением технологии печати, могут быть причиной высокого коэффициента обрыва солнечных панелей во время процесса ламинирования c-Si модулей. Уникальная технология подсветки, применяемая в системе Chroma 7213-AD для проверки поверхности оборотной стороны c-Si ячеек позволяет выявлять как самые распространённые, так и сложные дефекты.
Модель Chroma 7213 с аналогичными функциями была разработана с применением особого восходящего обнаружения, которое обеспечивает значительные преимущества по сравнению с обычными конструкциями и позволяет не переворачивать солнечные панели при их проверке. Такой подход позволяет сократить количество повреждений и сократить длину производственной линии.
Аналогично Chroma 7212-HD, Chroma 7213-AD может применяться после обработки оборотной стороны для отбраковки солнечных батарей с серьезными дефектами. Для окончательной проверки продукции перед отправкой системы также могут работать совместно с сортировщиком на производственной линии либо автономным сортировщиком.
Модель |
7213-AD |
Камера |
Монохромная ПЗС камера, 4M |
Разрешающая способность |
90 мкм/пиксель |
Источник света |
Светодиодная стробоскопическая подсветка |
Область применения |
Проверка дефектов задней панели |
Объектив |
Объектив с низкими искажениями |
Размеры |
320 мм x 324 мм x 1032 мм |
Вес |
60 кг |
Аксессуары |
Внешняя клавиатура, мышь, ПК, монитор |
Интерфейсы |
Ethernet, Опционально : IO, RS-232 |