Тестеры микросхем производства компании Teradyne, США предназначены для функционального и параметрического контроля интегральных схем (ИС) различной степени интеграции (от малой до сверхбольшой).

Измерительная часть тестеров микросхем фирмы Teradyne, их гибкость и универсальность предоставляют пользователю все возможности для проведения тестирования сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции (VLSI), начиная от микроконтроллеров до ASIC (специализированные микросхемы), включая микросхемы памяти, ЦАП, АЦП, а так же смарт-карты, RFID и т.д. Возможность проведения параллельного тестирования позволяет существенно увеличить производительность тестеров при применении их на выходном контроле предприятий – производителей компонентов.Все тестеры Teradyne построены на платформе, позволяющей расширять (наращивать) измерительные возможности тестера и видоизменять его при появлении новых требований пользователя к контролю компонентов. 
Основу тестеров микросхем фирмы Teradyne составляет тестовое шасси с установленными измерительными модулями, которое может размещаться или стационарно на поворотном механизме или на манипуляторе, при использовании тестеров микросхем фирмы Teradyne совместно с автоматическими загрузчиками микросхем или пластин. Такая компоновка тестовой системы позволяет разместить измерительную и задающую части непосредственно на самой тестовой головке и избежать применения объединительной платы и длинных кабельных межсоединений и тем самым выполнять тестирование компонентов на высоких частотах.