Компания Bruker – мировой лидер в области трехмерных измерений и инспекции поверхностей. Лучшие в своем классе по простоте использования, автоматизации и анализу получаемых данных, профилометры серии ContourGT открывают перед пользователем безграничные возможности по исследованию образцов, как в материаловедении, так и в медицине.
ContourGT-X - полностью автоматизированная система со встроенной виброизоляцией. Функция автокалибровки системы в совокупности с высокой скоростью измерений без потери в разрешении, значительно ускоряют процесс измерений, что делает эту систему идеальной для работы с потоком образцов.
ContourGT-X – самый надежный метрологический инструмент для объемного производства офтальмологических линз, медицинских приборов, полупроводниковых приборов, деталей прецизионной обработки и многого другого.
Основание для образцов XY |
200 мм моторизованное |
Перемещение по Z |
100 мм моторизованное |
Функция наклона |
наклон сканирующей головки на ±6° |
Источник света |
Два светодиода с большим сроком службы |
Матрица камеры |
640 x 480 |
Объективы |
Стандартные: 1x,1.5x,2x,2.5x,5.0x,10x,20x,50x,115x |
Крепление объективов |
Адаптер под один объектив |
Линзы поля зрения |
0.5,0.75,1.0,1.5,2.0X |
Максимальный предел сканирования по вертикали |
10 мм |
Разрешение по вертикали |
<0,01 нм |
Повторяемость RMS |
0,004 нм |
Латеральное разрешение |
0,38 мкм |
Максимальная скорость сканирования |
114 мкм/с |
Коэффициент отражения образцов |
0.05% - 100% |
Высота образцов |
До 10 см |
ПО |
Vision64 на базе Windows 7 64-бит |
Калибровка |
Автокалибровка, либо калибровочные стандарты |
Габариты |
852мм x 793мм x 1608мм |
Вес системы |
493 кг |
Диапазон сканирования по XY |
70 х 70 мкм - в турели с объективами |
Диапазон сканирования по Z |
22 мкм |
Режимы работы |
Статический |
Уровни шума по вертикали (Z) |
0,4 нм в статическом режиме |
Объективы и линзы поля зрения
К профилометрам дополнительно можно приобрести объективы и линзы, корректирующие поле зрения. Выбор обуславливается поставленными задачами – полями зрения, которые необходимо достичь и разрешением. Все возможные объективы и линзы представлены ниже. |
Камеры
В базовой комплектации включена камера 640 x 480. Возможно приобретение дополнительных камер:
Насадка для атомно-силовой микроскопии NanoLens™
NanoLens™ представляет собой АСМ головку, которая может быть установлена в обычную турель оптического профилометра. Благодаря моторизации турели, путем одного клика мыши можно легко перейти от оптической профилометрии к атомно-силовой микроскопии, что расширяет возможности профилометра и делает его еще более мощным инструментом анализа материалов. Наличие АСМ не только способствует увеличению латерального разрешения (менее 10 нм), которое не возможно достичь оптическим методом, но и позволяет снимать материалы, с которыми ранее оптика не справлялась |
Кроме того, наличие дополнительных методов АСМ позволяют помимо топографии поверхности, получить также информацию о ее свойствах.
Получение и анализ данных с помощью оптической профилометрии и атомно-силовой микроскопии осуществляется с помощью одного программного обеспечения, что не только позволяет оператору быстро просканировать поверхность, но и быстро проанализировать полученные данные с помощью одной программы, сопоставив полученную информацию от обоих методов.